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PTOF-Tx

    亚门级、超高精度飞行时间测量芯片PTOF-Tx基于自主研发的差分延迟链技术开发,典型时间分辨率分别为20ps、10ps,非常适用于激光测距、激光扫描、正电子断层扫描、高能物理、粒子物理等应用领域,其关键参数如下:

    ●  RMS时间分辨率:20ps, 10ps, typ.

    ●  Stop-to-stop测量范围:1μs, max

    ●  积分非线性:20ps, typ.

    ●  差分非线性:5ps, typ.

    ●  温度漂移偏移误差:3ps/K, max

    ●  SPI时钟频率:40MHz

    ●  供电电压:3.3V

    ●  温度范围:-40 to +85°C


    PTOF-Tx封装为QFN20,尺寸为4x4mm2

    PTOF-Tx的亚门级时间精度,由深入到晶体管层面的丰富设计经验实现,并在解决全局工艺偏差(GPV)、本地工艺偏差(LPV)和事件同步问题后得以保证。无论是激光测量,还是在正电子断层扫描系统中,PTOF-T1都能提供高速ADC或FPGA方案所不能比拟的:

    ●  稳定性和可靠性

    ●  积分非线性、差分非线性

    ●  时间分辨率与一致性

    ●  超低功耗(使用高速ADC的正电子断层扫描仪,需要增设成本极高的冷却系统)

    ●  成本可控

    与售价高达数十至数百美元的进口方案相比,PTOF-Tx的成本基本可控,供应链成熟稳定。

    湃睿半导体为典型应用提供以下支持:

    ●  芯片样品、标准化模块、评估套件(EK)、编程器、集成开发环境(IDE)等;

    ●  数据手册、应用白皮书、工艺建议等。