亚门级、超高精度飞行时间测量芯片PTOF-Tx基于自主研发的差分延迟链技术开发,典型时间分辨率分别为20ps、10ps,非常适用于激光测距、激光扫描、正电子断层扫描、高能物理、粒子物理等应用领域,其关键参数如下:
● RMS时间分辨率:20ps, 10ps, typ.
● Stop-to-stop测量范围:1μs, max
● 积分非线性:20ps, typ.
● 差分非线性:5ps, typ.
● 温度漂移偏移误差:3ps/K, max
● SPI时钟频率:40MHz
● 供电电压:3.3V
● 温度范围:-40 to +85°C
PTOF-Tx封装为QFN20,尺寸为4x4mm2。
PTOF-Tx的亚门级时间精度,由深入到晶体管层面的丰富设计经验实现,并在解决全局工艺偏差(GPV)、本地工艺偏差(LPV)和事件同步问题后得以保证。无论是激光测量,还是在正电子断层扫描系统中,PTOF-T1都能提供高速ADC或FPGA方案所不能比拟的:
● 稳定性和可靠性
● 积分非线性、差分非线性
● 时间分辨率与一致性
● 超低功耗(使用高速ADC的正电子断层扫描仪,需要增设成本极高的冷却系统)
● 成本可控
与售价高达数十至数百美元的进口方案相比,PTOF-Tx的成本基本可控,供应链成熟稳定。
湃睿半导体为典型应用提供以下支持:
● 芯片样品、标准化模块、评估套件(EK)、编程器、集成开发环境(IDE)等;
● 数据手册、应用白皮书、工艺建议等。